標簽： 老化試驗箱
  HAST高壓加速老化試驗箱用途：
加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和SPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。 注意事項：SPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應力試驗)。
HAST高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品特色：
a. 試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡便。
b.三重壓力安全保護裝置，控制器內(nèi)部兩段式超溫保護+機械式壓力安全保護裝置。
c.手動安全保護排壓伐，警急安全裝置兩段式自動排壓伐。
d.雙重過熱保護裝置：當鍋內(nèi)溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。
e.觸控液晶顯示屏控制器為試驗溫度，濕度，壓力之設定、控制及顯示,PID控制, 誤差±0.1
f.內(nèi)部定時器，當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。
g.開始運轉(zhuǎn)時真空泵浦抽出非飽和蒸氣以達到蒸氣質(zhì)量。
h.的壓力指示，誤差±0.1。